Осциллографы, анализаторы, генераторы сигналов и методики испытаний.

Испанская компания применила в полупроводниковом производстве измерение фазы волнового фронта, взятое из адаптивной оптики телескопов: вся пластина снимается одним кадром и даёт около 16 млн точек. Пластину при этом держат вертикально, чтобы исключить влияние тяжести.

Руководитель электронного направления Zeiss Microscopy Томас Роджерс рассказывает, как в лабораториях анализа отказов ищут причину выхода из строя SiC-MOSFET, IGBT и GaN-транзисторов: неразрушающая трёхмерная рентгеновская съёмка перед разрезанием образца, фемтосекундная лазерная абляция, полировка ионным пучком и возвращение старых методов вроде электронно-канального контраста.
Teradyne анонсировала Iris 100 — готовую к производству оптическую тестовую платформу для microLED, измеряющую каждый излучатель массива и интегрируемую с UltraFLEXplus.