Измерения и испытания
Осциллографы, анализаторы, генераторы сигналов и методики испытаний.
РазделыРынок 77Производство 22Микросхемы и вычисления 68Компоненты 91Системы и применения 96Китайские компоненты 76все разделы и темы ▾
Рынок
Производство
Микросхемы и вычисления
Компоненты
Системы и применения
Китайские компоненты
Темы
Датчики 74Память 73Робототехника 63Печатные платы 53Источники питания 48Дисплеи 38NXP 37Micron 35MOSFET 30Карбид кремния 28Корпусирование 28Электромобили 26Nvidia 25Микросхемы питания 25Нитрид галлия 24Конденсаторы 23Кремниевые пластины 17TSMC 12Texas Instruments 12Резисторы 12Samsung 11IGBT 10Infineon 10Дроссели 10
Тема «Корпусирование» · Показано 1–2 из 2 · сбросить тему
Rigaku покажет на SEMICON West рентгеновские средства измерения для полупроводникового производства
На выставке 13–15 октября в Сан-Франциско компания представит системы рентгеновской топографии XRTmicron и платформы XTRAIA для измерения тонких плёнок, структуры и критических размеров. Покажут также приборы рентгенофлуоресцентного анализа для поиска следовых загрязнений.
Сначала посмотри, потом режь: как находят первопричину отказов силовых приборов
Руководитель электронного направления Zeiss Microscopy Томас Роджерс рассказывает, как в лабораториях анализа отказов ищут причину выхода из строя SiC-MOSFET, IGBT и GaN-транзисторов: неразрушающая трёхмерная рентгеновская съёмка перед разрезанием образца, фемтосекундная лазерная абляция, полировка ионным пучком и возвращение старых методов вроде электронно-канального контраста.